TOKIO–(BUSINESS WIRE)–JEOL Ltd. (Präsident und CEO Izumi Oi) gibt die Entwicklung seines neuen Rasterelektronenmikroskops mit Low-Angle-Ionenfräsen, HAXIS, bekannt und wird am 5. Oktober 2026 mit dem Verkauf beginnen. HAXIS – Rasterelektronenmikroskop mit Low-Angle-Ionenfräsen Hintergrund der Entwicklung Da die Strukturen moderner Halbleiterbauelemente immer kleiner und komplexer werden, ist es zunehmend schwierig geworden, mikroskalige Schaltkreise mit Nanomanipulatoren zu berühren und zu me