TOKIO–(BUSINESS WIRE)–JEOL Ltd. kondigt de ontwikkeling aan van HAXIS, zijn nieuwe rasterelektronenmicroscoop met ionenpolijstsysteem onder een kleine hoek, en start de verkoop vandaag op 5 oktober 2026. HAXIS rasterelektronenmicroscoop met ionenpolijstsysteem onder een kleine hoek Achtergrond van de ontwikkeling Naarmate de structuren van geavanceerde halfgeleidercomponenten steeds kleiner en complexer worden, is het moeilijker geworden om met behulp van nanomanipulatoren contact te maken me