TOKIO–(BUSINESS WIRE)–JEOL Ltd. (presidente y director ejecutivo: Izumi Oi) anuncia el desarrollo de su nuevo microscopio electrónico de barrido con bombardeo iónico de ángulo bajo, HAXIS, cuya comercialización comienza el 5 de octubre de 2026. Microscopio electrónico de barrido con bombardeo iónico de ángulo bajo HAXIS Antecedentes del desarrollo A medida que las estructuras avanzadas de los dispositivos semiconductores siguen reduciéndose y volviéndose más complejas, es cada vez más difícil